начало 27/08/2017
окончание 30/08/2017

NT-MDT Spectrum Instruments выступает генеральным партнёром Международной конференции "Сканирующая зондовая микроскопия – 2017", которая пройдет в Екатеринбурге с 27 по 30 августа.

Будут представлены доклады президента NT-MDT SI проф. Виктора Быкова и руководителя отдела разработок NT-MDT SI к.т.н. Вячеслава Полякова.

Конференция посвящена широкому кругу вопросов, связанных с современным состоянием и перспективами развития различных методов Сканирующей Зондовой Микроскопии (СЗМ) в различных областях науки. Молодежная конференция будет включать приглашенные лекции ведущих специалистов и практические занятия на оборудовании УЦКП «Современные нанотехнологии» ИЕНиМ УрФУ. Планируется проведение конкурса работ молодых ученых.

Конференция должна стать первой в цикле ежегодных конференций, проводимых в разных городах России.

Тематики конференции:

1. СЗМ в материаловедении.    2. Новые методы СЗМ.
3. СЗМ в биологии и медицине.    4. Аналитические методы СЗМ.
5. Зондовая литография.    6. In situ возможности СЗМ.
7. Обработка данных СЗМ.
9. Ферроики.
   8. Сканирующая микроскопия пьезоотклика.
   10. Науки о жизни.


 

Программный комитет:

А.А. Бухараев КФТИ КазНЦ РАН, Казань    И.В. Яминский МГУ, Москва
В.А. Быков NT-MDT SI, Зеленоград      А.П. Володин Университет Левен, Бельгия
А.В. Латышев ИФП СО РАН, Новосибирск    А.Л. Груверман Университет Небраски, США
В.Л. Миронов ИФМ РАН, Нижний Новгород     О.В. Колосов Университет Ланкастера, Великобритания
Г.М. Михайлов ИПТМ РАН, Черноголовка    А.Л. Холкин Университет Авейру, Португалия
А.А. Саранин ИАПУ ДВО РАН, Владивосток    С.А. Чижик ИТМО НАНБ, Минск, Беларусь
В.Я. Шур УрФУ, Екатеринбург    В.В. Шварцман Университет Дуйсбург-Эссен, Германия


 

Сопредседатели конференции: В.Я. Шур и В.Л. Миронов

Официальные языки конференции: русский и английский

Труды конференции: планируется публикация статей в международных журналах Ferroelectrics и IOP Conference Series: Materials Science and Engineering.

Источники

Сканирующая зондовая микроскопия - 2017
Нанометр (nanometer.ru), 22/08/2017

Похожие новости